X光無損測厚儀的測量原理和使用注意事項
點擊次數：1134 發布時間：2021-02-22
X光無損測厚儀的測量原理和使用注意事項來看看有哪些？
X光無損測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。
X光無損測厚儀的測量原理：
物質經X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析
X光無損測厚儀使用注意事項：
測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。
1、要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
2、側頭與試樣表面保持垂直。
3、要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
4、要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
5、要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
6、要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
7、要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數。
8、X光無損測厚儀在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。
